GE檢測控制技術(shù)即將參與2012年中國半導(dǎo)體展覽會Semicon China
2012/3/8 13:23:58
“GE檢測控制技術(shù)即將參加在上海舉辦的2012年中國半導(dǎo)體展覽會 Semicon China.即時會向觀眾展示GE的高性能X射線檢測系統(tǒng)，這是一款GE去年新推出的具有卓越的性價(jià)比的檢測系統(tǒng)，可簡便地用于半導(dǎo)體分裝封裝和線路板組裝等電子行業(yè)領(lǐng)域。除此之外，還會展示GE的傳感器，現(xiàn)場儀表以及超聲檢測系統(tǒng)等。歡迎蒞臨指導(dǎo)，GE展位號：E5館5505-5507，上海新國際展覽中心。”
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